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半导体IC直流I-V特性分析源表插卡式

发布日期 :2020-04-26 10:57访问:1次发布IP:183.94.150.12编号:6083143
品牌:
普赛斯仪表
尺寸:
106×255×425mm
测试范围:
100pA~2A|0.3mV~60V
通信口:
RS-232,GPIB,以太网
分 类
测量仪表
单 价
28000.00元/台
最小起订量
1 台
供货总量
10000 台
发货期限
自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至
长期有效
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如客户首次使用我司插卡式源表系列产品,请先购买机箱SMU CS控制机箱,购买机箱时请标注需要使用几通道,方面我司将不用通道暂时封闭,保证外观美观性。

产品简介

CS系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态、插卡式源表,汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,最大输出电压达60V,最大输出电流达2A,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。CS系列源表适用于各行各业使用者,特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

CS系列源表由SMU CS控制机箱、SMU CS100源测量单元子卡、SMU CS200源测量单元子卡等组成,不同的子卡间电气隔离。CS100子卡为单卡单通道;CS204为单卡4通道,卡内4通道共地。CS系列相比S系列具有单位体积内通道密度更高的特点,一台SMU CS控制机箱内最多支持10块子卡,若全使用CS100子卡即可支持达10通道,若全使用CS204子卡即可支持达40通道。用户针对实际情况可以选择不同的子卡实现最优性价比搭配。

更多有关半导体IC直流I-V特性分析源表插卡式信息请联系一八一四零六六三四七六

产品应用

l 纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等

l 有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等

l 能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

l 分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等

l 传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等

 

产品特点

Ø 源及测量的准确度为0.1%,分辨率5数位

Ø 四象限工作(源和肼),源及测量范围:电流100pA~2A,电压0.3mV~60V

Ø 单主机可支持10子卡,最高实现40通道

Ø 灵活的通道触发矩阵配置,不同通道间可有序自动触发

Ø 丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

Ø 支持多种通信接口,RS-232、GPIB及以太网

半导体IC直流I-V特性分析源表插卡式技术指标

SMU CS控制机箱

通道数:最多支持10通道;

通信口:RS-232、GPIB、以太网;

电源:AC 100~240V 50/60Hz,最大功率1KW;

工作环境:25±10℃;

尺寸:106mm高 × 255mm宽 × 425mm长;

质保期:1年;

产品特点


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